波焊炉分析仪
SolderStar Wave Shuttle PRO W-1004
平流波(主波)与扰流波浸泡/接触时间测量
锡波高度/浸泡深度测量
基板上侧温度测量(左右两侧)
锡槽温度测量
锡波温差测量
基板/锡波接触区域测量
基板与轨道平行度测量
零件实际温度测量(via spare channels & user test PCB)
锡波高度/浸泡深度测量
基板上侧温度测量(左右两侧)
锡槽温度测量
锡波温差测量
基板/锡波接触区域测量
基板与轨道平行度测量
零件实际温度测量(via spare channels & user test PCB)
构成材质: 防静电材质
尺寸: (宽 x 长 x 高) 250mm x 350mm x 30mm
锡波接触侦测方式:11处侦测点托盘系统
接触侦测频率: 每秒100次
时间精度:+/- 0.01 seconds
锡波高度配置:0.2 - 2.4mm
温度规格 Type K热电偶
2 x PCB top side (Left and Right)
1 x Solder Pot
2 x User PCB/Auxiliary TYPE K
温度精度:+/- 1°C
温度分辨率: 0.02°C ( 0.1°C displayed on graph)
尺寸: (宽 x 长 x 高) 250mm x 350mm x 30mm
锡波接触侦测方式:11处侦测点托盘系统
接触侦测频率: 每秒100次
时间精度:+/- 0.01 seconds
锡波高度配置:0.2 - 2.4mm
温度规格 Type K热电偶
2 x PCB top side (Left and Right)
1 x Solder Pot
2 x User PCB/Auxiliary TYPE K
温度精度:+/- 1°C
温度分辨率: 0.02°C ( 0.1°C displayed on graph)